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Please use this identifier to cite or link to this item: http://ir.ncue.edu.tw/ir/handle/987654321/13036

Title: 可程式電晶體虛擬三線I-V自動量測分析器之設計與實踐
Authors: 姚凱超;曾榮泓;丁建中
Contributors: 工業教育與技術學系
Keywords: 虛擬儀器;電晶體;特性曲線;虛擬儀器程式語言;三線I-V分析器
Date: 2007-12
Issue Date: 2012-08-07T01:18:10Z
Publisher: 亞洲大學資訊學院;中華電腦學會;行政院國家科學委員會工程處
Abstract: 在這篇研究中,對於電晶體虛擬三線I-V自動量測分析器,研究了建構的方式與設計的功能,並對於量測的原理也做了基本描述和介紹,再加上外部電路所建構而成,並可進行以下之量測功能:(1)電晶體之特性曲線量測(2)電晶體之集極電流量測(3)電晶體之集極電壓量測(4)電晶體之α、β、γ測量。在範例中,對於人機介面上,顯現可程式設計之特性,最後以實際電晶體測試來驗證所設計之虛擬三線I-V分析器之可靠性。
Relation: 2007 National Computer Symposium全國計算機會議, 2007年12月20-21日
Appears in Collections:[工業教育與技術學系] 會議論文

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