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Item 987654321/14005
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http://ir.ncue.edu.tw/ir/handle/987654321/14005
題名:
Reciprocal Space Mapping of High-resolution X-ray Diffraction for InAlAs/InGaAs Metamorphic High Electron Mobility Transistors
作者:
Ke, S. H.
;
Wu, Jenq-Shinn
貢獻者:
電子工程學系
日期:
2008
上傳時間:
2012-09-10T02:36:12Z
關聯:
Physical Society Annual Meeting
顯示於類別:
[電子工程學系] 會議論文
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