National Changhua University of Education Institutional Repository : Item 987654321/17384
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题名: Comment on “Unraveling the Conduction Mechanism of Al-doped ZnO Films by Valence Band Soft x-ray Photoemission Spectroscopy” [ Appl. Phys. Lett. 86, 042104 (2005) ]
作者: Lin, Yow-Jon
贡献者: 光電科技研究所
关键词: Aluminium;Zinc compounds;II-VI semiconductors;Wide band gap semiconductors;Semiconductor thin films;X-ray photoelectron spectra;Valence bands, energy gap;Photoluminescence
日期: 2005-05
上传时间: 2013-10-02T08:36:20Z
出版者: American Institute of Physics
關聯: Applied Physics Letters, 86(21): 216101
显示于类别:[光電科技研究所] 期刊論文

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