National Changhua University of Education Institutional Repository : Item 987654321/17483
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題名: Oxidation Mechanism for Ohmic Formation in Ni/Au Contacts to P-type GaN Layers
作者: Lee, C. S.;Lin, Yow-Jon;Lee, C. T.
貢獻者: 光電科技研究所
日期: 2001
上傳時間: 2013-10-02T08:39:04Z
出版者: Electronics Devices and Materials Association
關聯: Electronics Devices and Materials Symposia Taiwan 2001, : 171
顯示於類別:[光電科技研究所] 會議論文

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