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Item 987654321/19095
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http://ir.ncue.edu.tw/ir/handle/987654321/19095
題名:
高良率記憶體內建自我冗餘分析與修復方法之研究
Study on High-Yield Built-In Redundancy-Analysis and Self-Repair for Memory
作者:
黃宗柱
貢獻者:
電子工程學系
日期:
2011
上傳時間:
2014-10-27T08:07:19Z
出版者:
行政院國家科學委員會
關聯:
國科會計畫, 計畫編號: NSC100-2221-E018-014; 研究期間: 1000-10107
顯示於類別:
[電子工程學系] 國科會計畫
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