National Changhua University of Education Institutional Repository : Item 987654321/19111
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题名: A High-Resolution Current Test Scheme for Nanotechnologies
作者: Huang, Tsung-Chu;Li, Ling
贡献者: 電子工程學系
日期: 2006-10
上传时间: 2014-10-27T08:08:11Z
關聯: IEEE International Workshop on Current and Defect Based Test in conjunction with ITC, : 25-28
显示于类别:[電子工程學系] 會議論文

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