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[電子工程學系] 期刊論文
1999-04
BIFEST: A Built-in Intermediate Fault Effect Sensing and Test Generation System for Cmos Bridging Faults
Lee, Kuen-Jong
;
Tang, Jing-Jou
;
Huang, Tsung-Chu
[電子工程學系] 會議論文
1997
Built-In Current Sensor Designs Based on the Bulk-Driven Technique
Huang, Tsung-Chu
;
Huang, Min-Cheng
;
Lee, Kuen-Jong
[電子工程學系] 會議論文
1996
Combination of Automatic Test Pattern Generation and Built-in Intermediate Voltage Sensing for Detecting CMOS Bridging Faults
Lee, Kuen-Jong
;
Tang, Jing-Jou
;
Huang, Tsung-Chu
;
Tsai, Cheng-Liang
[電子工程學系] 會議論文
1997
A High-Speed Low-Voltage Built-In Current Sensor
Huang, Tsung-Chu
;
Huang, Min-Cheng
;
Lee, Kuen-Jong
[電子工程學系] 會議論文
1999
An Input Control Technique for Power Reduction in Scan Circuits During Test Application
Huang, Tsung-Chu
;
Lee, Kuen-Jong
[電子工程學系] 期刊論文
2002-12
An Interleaving Technique for Reducing Peak Power in Multiple-Chain Scan Circuits During Test Application
Lee, Kuen-Jong
;
Huang, Tsung-Chu
[電子工程學系] 會議論文
2001
A Low-Power LFSR Architecture
Huang, Tsung-Chu
;
Lee, Kuen-Jong
[電子工程學系] 會議論文
2000
Peak-power Reduction for Multiple-scan Circuits During Test Application
Lee, Kuen-Jong
;
Huang, Tsung-Chu
;
Chen, Jih-Jeen
[電子工程學系] 期刊論文
2001-07
Reduction of Power Consumption in Scan-based Circuits During Test Application by an Input Control Technique
Huang, Tsung-Chu
;
Lee, Kuen-Jong
[電子工程學系] 會議論文
2006-04
A Supply-Gating Scheme for Both Data-Retention and Spike-Reduction in Power Management and Test Scheduling
Huang, Tsung-Chu
;
Tzeng, Jing-Chi
;
Chao, Yuan-Wei
;
Chen, Ji-Jan
;
Liu, Wei-Ting
;
Lee, Kuen-Jong
[電子工程學系] 會議論文
2001
A Token Scan Architecture for Low Power Testing
Huang, Tsung-Chu
;
Lee, Kuen-Jong
[電子工程學系] 期刊論文
2001-05
Token Scan Cell for Low Power Testing
Huang, Tsung-Chu
;
Lee, Kuen-Jong
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