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[光電科技研究所] 期刊論文 2004-09 Comment on “Interpretation of Fermi Level Pinning on 4H–SiC using Synchrotron Photoemission Spectroscopy” [Appl. Phys. Lett. 84, 538 (2004)] Lin, Yow-Jon; Tseng, Chih-Kuo

 


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