English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 6507/11669
造訪人次 : 30068879      線上人數 : 503
RC Version 3.2 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 進階搜尋

請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.ncue.edu.tw/ir/handle/987654321/13769

題名: SOI Process and Stability Measurements of SCS Scanning Micromirror
作者: Chen, Tzung-Ming;Brunne, J.;Wallrabe, U.
貢獻者: 工業教育與技術學系
日期: 2011-06
上傳時間: 2012-08-27T10:53:20Z
關聯: The 9th International Workshop on HARMST (HARMST 2011), Hsinchu, Taiwan, June 12-18, 2011: 131-132
顯示於類別:[工業教育與技術學系] 會議論文

文件中的檔案:

沒有與此文件相關的檔案.



在NCUEIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.

 


DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回饋