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Item 987654321/17477
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http://ir.ncue.edu.tw/ir/handle/987654321/17477
題名:
The Characterization of Mg Implanted GaN Material
作者:
Tsai, C. D.
;
Lin, Yow-Jon
;
Lee, C. T.
貢獻者:
光電科技研究所
日期:
1999
上傳時間:
2013-10-02T08:38:49Z
出版者:
Progress in Electromagnetics Research Symposium(PIERS)
關聯:
Progress in Electromagnetics Research Symposium(PIERS), : 529
顯示於類別:
[光電科技研究所] 會議論文
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